Корзина пуста
Идея LVEM (низковольтных электронных микроскопов Delong) проста: просвечивающий электронный микроскоп должен быть
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом для сверхвысокого разрешения, ...
Сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific Prisma E (SEM) сочетает в себе широкий спектр методов визуализации ...
Verios 5 XHR SEM предлагает субнанометровое разрешение в полном диапазоне энергии от 1 кэВ до 30 кэВ с отличной ...
 (1) (1) (1)_0x120.png)
Quattro ESEM - это очень гибкая платформа для динамических экспериментов in situ. Quattro ESEM позволяет ученым изучать ...
Новый РЭМ Thermo Scientific Apreo 2 расширяет доступ к высокопроизводительной визуализации и аналитике для специалистов ...
Сканирующий (Растровый) электронный микроскоп для материаловедения с термоэмиссионным катодом. В базовую комплектацию ...
Thermo Scientific Phenom XL G2 настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) автоматизирует процесс контроля ...
_0x120.png)
Настольный сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific Phenom Pure (SEM) является идеальным инструментом для ...
6_0x120.png)
Шестое поколение настольных электронных микроскопов Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop заполняет разрыв между ...
Уникальный среди настольных SEM, Phenom Pharos G2 FEG-SEM оснащен автоэмиссионным источником электронов, который ...
Thermo Scientific Krios G4 позволяет исследовать жизнь на атомном уровне легче, быстрее и надёжнее, чем когда-либо ...
Крио-трансмиссионный электронный микроскоп (cryo-TEM) Thermo Scientific Glacios 2 — это микроскоп с напряжением 200 кВ, ...
Thermo Scientific Talos L120C G2 (S)TEM - это термоионный (сканирующий) просвечивающий электронный микроскоп на 20-120 ...
Разработанный для многопользовательских и междисциплинарных условий, Talos F200i (S)TEM также идеально подходит для ...
Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM) Spectra Ultra для передачи. Для эффективной оптимизации ...
Высококачественная подготовка образцов Подготовка конкретного места образца для анализа (S)TEM и TEM с использованием ...